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A double-layer scheme for extrapolating terahertz complex refractivity from reflectance of aerocraft materials
Yuan Mou
, Mao rong Wang
*
, Zhi qiang Yang, Yan qin Gao,
Bi yi Wu
*
此作品的通讯作者
集成电路与电子学院
Qingdao University of Science and Technology
Xi'an Technological University
CAS - Shanghai Institute of Technical Physics
科研成果
:
期刊稿件
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文章
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同行评审
综述
指纹
指纹
探究 'A double-layer scheme for extrapolating terahertz complex refractivity from reflectance of aerocraft materials' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Engineering
Refractive Index
100%
Double Layer
100%
Terahertz
100%
Reflectance
100%
Refractivity
100%
Extinction Coefficient
50%
Reflectance Spectrum
50%
Kronig Relation
50%
Aluminum Plate
25%
Preliminary Analysis
25%