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A cost-driven fracture heuristics to minimize external sliver length
Ma Xu
, Jiang Shangliang, Zakhor Avideh
*
*
此作品的通讯作者
University of California at Berkeley
科研成果
:
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会议稿件
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同行评审
11
引用 (Scopus)
综述
指纹
指纹
探究 'A cost-driven fracture heuristics to minimize external sliver length' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Engineering
Optical Lithography
100%
Mask Pattern
100%
Feature Size
100%
Smallest Feature
100%
Material Science
Density
100%
Optical Lithography
100%
Transistor
100%