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A competition between (0 0 1) and (0 1 1) alignments in yttria stabilized zirconia thin films fabricated by ion beam assisted deposition
Z. Wang
*
, B. J. Yan, F. Feng, H. Chen, K. Shi, Z. Han
*
此作品的通讯作者
物理学院
Beijing Institute of Technology
Tsinghua University
科研成果
:
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文章
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同行评审
2
引用 (Scopus)
综述
指纹
指纹
探究 'A competition between (0 0 1) and (0 1 1) alignments in yttria stabilized zirconia thin films fabricated by ion beam assisted deposition' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Material Science
Film
100%
Thin Films
100%
Yttria Stabilized Zirconia
100%
Ion Beam Assisted Deposition
100%
X-Ray Diffraction
33%
Film Growth
33%