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用于位相缺陷检测的反射式剪切点衍射干涉仪
Yun Ma, Lei Chen
*
,
Yi Ming Liu
, Wen Hua Zhu
*
此作品的通讯作者
Nanjing University of Science and Technology
科研成果
:
期刊稿件
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文章
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同行评审
5
引用 (Scopus)
综述
指纹
指纹
探究 '用于位相缺陷检测的反射式剪切点衍射干涉仪' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Physics
Phase Defect
100%
Optical Device
66%
High Resolution
33%
Interferometry
33%
High Power Lasers
33%
Engineering
Defects
100%
Relative Error
14%
High Resolution
14%
Power Laser
14%
Carrier Frequency
14%
Larger Aperture
14%
Diffraction Effect
14%
Interferogram
14%
Laser System
14%
Fast Fourier Transform Algorithm
14%
Material Science
Interferometer
100%
Optical Device
33%
Density
16%