压接型 IGBT 器件短路失效管壳爆炸特性及防护方法

Yang Zhou, Xinling Tang, Liang Wang, Xiaowei Zhang, Anqi Dai, Zhongkang Lin, Rui Jin, Xiaoguang Wei*

*此作品的通讯作者

科研成果: 期刊稿件文章同行评审

指纹

探究 '压接型 IGBT 器件短路失效管壳爆炸特性及防护方法' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。

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