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Using compressive measurement to obtain images at ultra low-light-level
Jun Ke
, Ping Wei
光电学院
Beijing Institute of Technology
科研成果
:
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会议稿件
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同行评审
3
引用 (Scopus)
综述
指纹
指纹
探究 'Using compressive measurement to obtain images at ultra low-light-level' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Engineering
Conventional System
50%
Image Object
50%
Intensifier
50%
Light Level
100%
Measurement System
50%
Photocathode
50%
Root Mean Square Error
50%
Computer Science
Conventional System
50%
Lower Light Level
100%
Measurement System
50%
Physics
Photocathode
100%