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Exploiting the categorical reliability difference for binary classification
Lei Sun
, Kar Ann Toh
*
, Badong Chen, Zhiping Lin
*
此作品的通讯作者
集成电路与电子学院
Yonsei University
Xi'an Jiaotong University
Nanyang Technological University
科研成果
:
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文章
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同行评审
2
引用 (Scopus)
综述
指纹
指纹
探究 'Exploiting the categorical reliability difference for binary classification' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Computer Science
Binary Classification
100%
Eigenvalue
100%
Generalization Performance
100%
Pattern Classification
100%
Regularization Term
100%
Engineering
Generalized Eigenvalue
100%
Moment Matrix
100%
Regularization
100%