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冲击加载下 PBX 界面对热点形成和安全性影响
Quanzhi Xia,
Yanqing Wu
*
, Chuanguo Chai,
Kun Yang
,
Fenglei Huang
*
此作品的通讯作者
机电学院
Beijing Institute of Technology
China Academy of Engineering Physics
科研成果
:
期刊稿件
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同行评审
综述
指纹
指纹
探究 '冲击加载下 PBX 界面对热点形成和安全性影响' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Engineering
Impact Loads
100%
Hot Spot
100%
Ignition
83%
Internals
33%
Exothermic Reaction
33%
Crystal Surface
33%
Finite Element Modeling
16%
Defects
16%
Temperature Rise
16%
Coating Quality
16%
Impact Condition
16%
Heat Generation
16%
Material Science
Impact Loads
100%
Density
66%
Surface Roughness
66%
Finite Element Modeling
33%