跳到主要导航
跳到搜索
跳到主要内容
北京理工大学 首页
English
中文
在 北京理工大学 上搜索内容
首页
师资队伍
研究单位
科研成果
奖项
活动
查看 Scopus 资料
张 子岳
集成电路与电子学院
h-index
249
引用
9
H-指数
根据储存在 Pure 的刊物以及来自 Scopus 的引用文献数量计算
2016
2026
历年发文量
概览
指纹图谱
合作网络
科研成果
(37)
相似学者
(1)
指纹图谱
深入探索 Ziyue Zhang 活跃其中的研究主题。这些主题标签来自该研究者的学术成果,它们共同构成了一个独特的学术指纹.
1
相似学者
Silicon
Material Science
100%
Cost Efficiency
Engineering
49%
High Aspect Ratio
Engineering
49%
Seed Layer
Engineering
39%
Polyimide
Material Science
35%
Electroless Plating
Engineering
34%
Position Sensor
Engineering
26%
Micromirrors
Engineering
26%
科研成果
每年的科研成果
2016
2023
2024
2025
2026
2026
20
会议稿件
17
文章
每年的科研成果
每年的科研成果
A Simulation Study of a Bandpass Filter Formed by CNT-Core Cu-TSVs with Enhanced Thermal Management
Wang, H.,
Ding, Y.
,
Zhang, Z.
, Zhang, J., Zhang, A., Pei, X. & Chen, Z.,
6月 2026
,
在:
Micromachines.
17
,
6
, 724.
科研成果
:
期刊稿件
›
文章
›
同行评审
开放访问
Carbon Nanotube
100%
Radio Frequency
100%
Bandpass Filter
100%
Silicon
100%
Thermal Management
100%
Double-Sided Fabrication of TSV Interposer With Parylene-Based Damascene RDLs Achieved by Selective Electroless Plating
Su, Y.,
Ding, Y.
,
Zhang, Z.
, Wang, H., Hao, Y., Yan, Y.,
Xie, H.
& Chen, Z.,
2026
,
在:
IEEE Electron Device Letters.
47
,
1
,
页码 140-143
4 页码
科研成果
:
期刊稿件
›
文章
›
同行评审
Interposer
100%
Electroless Plating
100%
Electrical Performance
33%
Dielectric Layer
33%
Chemical Mechanical Polishing
33%
5
在新选项卡中打开链接
引用 (Scopus)
Fabrication and Characterizations of High-Aspect-Ratio TSVs With Low Parasitic Parameters for High-Density 3-D Integration
Chen, X., Chen, Z.,
Zhang, Z.
, Zhang, J., Su, Y. &
Ding, Y.
,
8月 2026
,
在:
IEEE Transactions on Electron Devices.
73
,
8
,
页码 4817-4823
7 页码
科研成果
:
期刊稿件
›
文章
›
同行评审
High Aspect Ratio
100%
Density
100%
Silicon
100%
Process Flow
66%
Low-Temperature
33%
Modeling and Optimization of TSV Cu Electroplating Process for Void-Free Filling
Cai, Y., Chen, Z.,
Zhang, Z.
, Su, Y.,
Li, X.
&
Ding, Y.
,
2026
,
2026 27th International Conference on Electronic Packaging Technology, ICEPT 2026.
2026 编辑
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
科研成果
:
书/报告/会议事项章节
›
会议稿件
›
同行评审
Development Cost
100%
Simulation Result
100%
Numerical Model
100%
Optimization Approach
100%
High Aspect Ratio
100%
Study of Keep-Out Zone (KOZ) Characteristics for Parylene-Liner TSVs Fabricated by Double-Sided Processes
Zhang, J.,
Ding, Y.
,
Zhang, Z.
, Su, Y., Hao, Y. & Chen, Z.,
2026
,
2026 27th International Conference on Electronic Packaging Technology, ICEPT 2026.
2026 编辑
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
科研成果
:
书/报告/会议事项章节
›
会议稿件
›
同行评审
Silicon Dioxide
100%
Residual Stress
50%
Design Guideline
50%
Parametric Analysis
50%
Mechanical Stress
50%